ARL? QUANT'X EDXRF 光譜儀
ARL EDXRF光譜儀QUANT'X簡介:
在幾分鐘內(nèi)即可獲得幾乎任何樣品的成分數(shù)據(jù)。Thermo Scientific? ARL? QUANT'X EDXRF光譜儀提供*大范圍的樣品的常量元素、微量元素和痕量元素的定量分析，包括大塊固體、顆粒、粉末、薄膜和液體。這款臺式 EDXRF（能量色散 X 射線熒光）系統(tǒng)配備無標樣軟件和配件，可滿足中心實驗室、合同實驗室以及環(huán)境監(jiān)測、化工、采礦、法醫(yī)、食品、電子、水泥以及金屬行業(yè)的元素分析需求。
ARL EDXRF光譜儀QUANT'X描述:
ARL QUANT'X EDXRF 光譜儀提供元素分析的*限性能、多用途和可靠性。其緊湊的臺式設計、緊密耦合光學器件以及**的電子冷卻檢測器，讓我們能夠在從 ppm 到百分比元素濃度的廣泛動態(tài)范圍內(nèi)獲得無以倫比的分析精 確度。
ARL EDXRF光譜儀QUANT'X的功能變得更加強大！除了 Peltier 冷卻 Si(Li) 檢測器，現(xiàn)在該儀器還安裝了厚 1mm、面積 30mm2 的 SDD – SDD1000。SDD 能夠以出色的分辨率處理高計數(shù)率，而且通常比 Si(Li) 檢測器薄得多。常見厚度為 0.45mm，更高能量下的檢測效率較差。ARL QUANT’X 中的新型 SDD1000 的厚度增加一倍以上，達到 1mm。與基于 Si(Li) 的 ARL QUANT’X 相比，SDD1000 版本在周期表中表現(xiàn)出更好的靈敏度，檢測*限增加到原來的 2 倍，還適用于 Cd 和 Sn 等重金屬元素。另外，計數(shù)時間還可以減少為原來的 1/4！新型 SDD1000 結合了 SDD 和 Si(Li) 檢測器的優(yōu)點。
**的技術
-
Peltier Si(Li) 冷卻檢測器 或者 1mm 厚的硅漂移檢測器 (SDD)。
-
數(shù)字脈沖處理 (DPP) 技術。
-
高性能、多元素分析。
-
選配的 Thermo Scientific? UniQuant? 軟件可提供優(yōu)良的無標樣分析。
ARL EDXRF光譜儀QUANT'X主要特點
-
**的痕量分析靈敏度。
-
高測量吞吐量，適合過程控制。
-
**的非典型材料分析算法。
-
出色的樣品處理靈活性。
-
機械簡單性和可靠性。
-
緊湊、占地面積小，便于運輸，適合現(xiàn)場測量。
-
快速、簡單的安裝，全 面的現(xiàn)場定制化。
-
包含完整的實驗室啟動包。
-
可進行空氣、真空和氦氣中的樣品分析。
-
經(jīng)過驗證的硬件和一體化的軟件。
-
現(xiàn)場協(xié)作式方法**。
-
全 面的技術應用支持。
-
成百上千種應用的**知識。
-
大樣品室、攝像機以及各種范圍的準直器。
功能強大、簡單易用的 Thermo Scientific? WinTrace? 軟件
-
無標樣和半無標樣分析。
-
含標準樣品的基本參數(shù) (FP) 和經(jīng)驗方法。
-
多層厚度和成分。
-
無限制的元素，無限制的標準品數(shù)量。
-
多種激發(fā)條件，帶自動化操作。
選配的 UniQuant **無標樣分析
-
比任何其他 FP 分析更進一步，可選的 UniQuant 程序收集從氟到鈾的所有可能元素發(fā)出的所有譜線。這種完整的樣品光譜曲線讓 UniQuant 能夠自動校正所有可能的重疊和背景效應。這些效應在能量色散光譜中尤為復雜。
-
始終可以分析所有元素。
-
每份樣品的獨特物理特性，例如面積、厚度和質(zhì)量均納入計算。
-
校正 X 射線管輸出的長期變化。
-
多種多樣的可選報告級別和格式，可以為任何類型的用戶清楚地呈現(xiàn)結果。
-
UniQuant 在出廠時經(jīng)過全 面預先校準，可開箱即用。
ARL EDXRF光譜儀QUANT'X推薦用途
氣溶膠微粒過濾器
對塑料中的有毒元素進行 RoHS / WEEE 篩選
法醫(yī)和痕量元素分析
營養(yǎng)補充劑
磁性介質(zhì)和半導體
土壤污染和其他環(huán)境篩選
冷卻水回路的腐蝕監(jiān)測
水泥、飼料和替代燃料
冶金爐渣和礦石開采
廢泥漿和廢油
過濾器薄膜
珠寶、貴金屬和首飾分析
